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JSY-IV全自動(dòng)抗干擾介質(zhì)損耗測(cè)試儀的作用
2017-06-02 SXJS-IV智能化介質(zhì)損耗測(cè)試儀工作原理
2013-05-02 JYC變頻全自動(dòng)抗干擾介質(zhì)損耗測(cè)試儀
2016-07-18
2015-10-29
2012-09-06 產(chǎn)品展示/ Product display

SXJS-IV SXJS-IV抗干擾介質(zhì)損耗測(cè)試儀具有多種測(cè)量方式,可選擇正/反接線、內(nèi)/外標(biāo)準(zhǔn)電容器、CVT和內(nèi)/外試驗(yàn)電壓進(jìn)行測(cè)量。正接線可測(cè)量高壓介損。
產(chǎn)品型號(hào):
廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
更新時(shí)間:2025-01-03
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SXJS-IV SXJS-IV抗干擾介質(zhì)損耗測(cè)試儀
| 測(cè)量?jī)?nèi)容 | tgδ范圍 | 電容量范圍(Cx) | 試品類型 | 基本誤差 |
| 介質(zhì)損耗因數(shù)tgδ | 0~1 | 50pF~60000pF | 非接地 | ±(1%讀數(shù)+0.0005) |
| 接地 | ±(1%讀數(shù)+0.0010) | |||
| 10pF~50pF或60000pF以上 | 非接地 | ±(1%讀數(shù)+0.0010) | ||
| 接地 | ±(2%讀數(shù)+0.0020) | |||
| 3pF~10pF | 非接地與接地 | |||
| 電容量 | 50pF以上 | ±(1%讀數(shù)+1pF) | ||
| 50pF以下 | ±(1%讀數(shù)+2pF) |